Интерпретация порошковых рентгенограмм

Автор(ы):Липсон Г., Стипл Г.
21.12.2023
Год изд.:1972
Описание: Предлагаемая книга представляет собой модернизированное пособие по непрерывно совершенствующимся порошковым методам, которое включает все достижения последних лет, как экспериментальные, так и теоретические. Она рассчитана на рентгеноструктурщиков, использующих в основном порошковые рентгенограммы, а также на студентов, осваивающих порошковые методы рентгеноструктурного анализа.
Оглавление:
Интерпретация порошковых рентгенограмм — обложка книги. Обложка книги.
Предисловие редактора перевода [5]
Предисловие авторов [9]
Глава 1. Кристаллические решетки и симметрия кристаллов [11]
  §1. Природа кристаллов [11]
    1. Кристаллическое состояние [11]
    2. Закон рациональных индексов [13]
    3. Симметрия [15]
    4. Зоны и оси зон [15]
    5. Стереографические проекции [17]
  §2. Симметрия кристаллов [20]
    1. Типы симметрии [20]
    2. Комбинации элементов симметрии [21]
    3. Кристаллические системы [22]
    4. Кристаллические решетки [23]
    5. Кристаллические классы [28]
  §3. Симметрия кристаллических структур [33]
    1. Плоскости скольжения и винтовые оси [33]
    2. Пространственные группы [36]
    3. Классы Лауэ [39]
Глава 2. Геометрия рентгеновских отражений [41]
  §1. Дифракция на кристаллах [41]
    1. Дифракция от трехмерной решетки [41]
    2. Закон Брэгга [44]
    3. Порядки отражений [52]
  §2. Обратная решетка [52]
    1. Сущность обратной решетки [52]
    2. Разновидности обратной решетки [57]
    3. Использование обратной решетки при изучении явления дифракции [61]
Глава 3. Рентгеновские лучи [63]
  §1. Природа, рентгеновского излучения [63]
    1. Введение [63]
    2. Белое излучение [63]
    3. Характеристическое излучение [65]
  §2. Преломление рентгеновских лучей [69]
  §3. Длины волн рентгеновских лучей [71]
    1. Единицы измерения [71]
    2. Точность измерения [75]
  §4. Поглощение рентгеновских лучей [75]
    1. Коэффициенты поглощения [75]
    2. Края поглощения и флуоресцентное излучение [77]
    3. Когерентное и некогерентное рассеяния [79]
    4. Выбор излучения. Приемы ослабления фона [79]
  §5. Отраженное кристаллом излучение [81]
    1. Введение [81]
    2. Изогнутые кристаллические монохроматоры [85]
  §6. Получение рентгеновских лучей [88]
    1. Типы рентгеновских трубок [88]
    2. Газовые трубки [88]
    3. Трубки с горячим катодом [88]
    4. Трубки с вращающимся анодом [91]
    5. Острофокусные трубки [91]
    6. Электролитическое платинирование анодов [92]
    7. Меры защиты [93]
Глава 4. Регистрация порошковых рентгенограмм и их измерение [94]
  §1. Введение [94]
  §2. Приготовление образцов [99]
  §3. Измерение брэгговских углов [100]
    1. Геометрические характеристики камер [100]
    2. Измерение порошковых рентгенограмм [104]
    3. Поправка на поглощение [105]
  §4. Цилиндрические порошковые камеры [107]
    1. Диаметр камеры [107]
  §5. Рентгеновский дифрактометр для порошковых препаратов [109]
    1. Регистрация дифрагированного излучения [109]
    2. Геометрическая характеристика дифрактометра 109.
    3. Практические указания [111]
  §6. Высокотемпературные и низкотемпературные камеры [113]
    1. Высокотемпературные камеры [113]
    2. Низкотемпературные камеры [114]
  §7. Камеры высокого давления [119]
  §8. Камеры других типов [119]
    1. Фокусирующие камеры [119]
    2. Камеры для массивных образцов [124]
    3. Микролучевые камеры [126]
    4. Факторы, определяющие выбор камеры [126]
  §9. Дифракция нейтронов [128]
Глава 5. Интерпретация порошковых рентгенограмм [130]
  §1. Введение [130]
  §2. Расчет рентгенограмм в случае известной ячейки [131]
    1. Кубическая система [131]
    2. Тетрагональная, гексагональная и тригональная системы [132]
    3. Ромбическая система [134]
    4. Моноклинная и триклинная системы [135]
  §3. Расчет рентгенограмм в случае неизвестной ячейки [138]
    1. Кубическая система [138]
    2. Тетрагональная система [141]
    3. Гексагональная и тригональная системы [144]
    4. Ромбическая система [145]
    5. Моноклинная система [150]
    6. Триклинная система [152]
    7. Преобразование осей методом Ито [156]
    8. Обобщение метода Ито для триклинной системы [158]
    9. Индицирование рентгенограмм триклинных кристаллов методом Сольдоса [161]
  §4. Графические методы интерпретации [164]
    1. Основные принципы графических методов [164]
    2. Метод Бьерстрема [165]
    3. Сетки Хэлла - Дэви [169]
  §5. Другие методы интерпретации [173]
  §6. Сравнение аналитических и графических методов [175]
  §7. Проверка правильности результата [177]
Глава 6. Точное определение размеров элементарной ячейки [179]
  §1. Введение [179]
  §2. Исключение систематических ошибок в порошковых рентгенограммах [180]
    1. Несовпадение оси камеры и оси вращения образца [180]
    2. Поглощение и расходимость пучка рентгеновских лучей [181]
    3. Конечная высота образца [182]
    4. Усадка пленки [182]
    5. Преломление [184]
    6. Пределы точности [184]
  §3. Приемы работы с порошковыми рентгенограммами кубических и одноосных образцов [186]
    1. Основные положения метода для кубических образцов [186]
    2. Приемы расчета [187]
    3. Выбор излучения [187]
    4. Практический пример [188]
    5. Метод для одноосных образцов [190]
  §4. Аналитический метод Когена [191]
    1. Введение [191]
    2. Приемы устранения систематических ошибок [192]
    3. Случайные ошибки. Их учет [193]
    4. Практический пример [194]
  §5. Статистический метод [196]
  §6. Применение цилиндрической фокусирующей камеры [196]
    1. Введение [196]
    2. Устранение ошибок [198]
  §7. Камера обратной съемки с плоской кассетой [200]
  §8. Приемы работы на дифрактометре со счетчиком [201]
    1. Измерение брэгговского угла [201]
    2. Источники ошибок [202]
    3. Ошибки в положении максимума пика [203]
    4. Ошибки, связанные с положением центра тяжести дифракционного профиля [204]
  §9. Приложения [206]
    1. Определение коэффициентов теплового расширения [206]
    2. Определение фазовых границ на диаграммах равновесия [206]
    3. Определение плотности и молекулярного веса [207]
    4. Измерение внутренних напряжений [208]
    5. Определение кристаллических структур [209]
Глава 7. Измерение интенсивностей рентгеновских рефлексов и их вычисление [211]
  §1. Введение [211]
  §2. Измерение интенсивностей фотографическими методами [211]
    1. Действие рентгеновского излучения на фотопленку [211]
    2. Типы фотометров [212]
    3. Основные условия измерения [215]
    4. Приложение к порошковым рентгенограммам [210]
  §3. Измерение интенсивностей при помощи дифрактометров [218]
    1. Регистрация рентгеновских квантов при помощи счетчиков [218]
    2. Счетчик Гейгера и пропорциональный счетчик [218]
    3. Сцинтилляционный счетчик [222]
    4. Интегральная интенсивность [223]
  §4. Вычисление интенсивностей рентгеновских рефлексов [224]
    1. Введение [224]
    2. Формула для относительной интенсивности [225]
    3. Угловой фактор [225]
    4. Фактор поглощения [226]
    5. Экстинкция [227]
    6. Фактор повторяемости [230]
  §5. Структурный фактор [236]
    1. Определение структурного фактора и структурной амплитуды [236]
    2. Атомный фактор [237]
    3. Температурный фактор [240]
    4. Геометрический структурный фактор [240]
    5. Отсутствие рефлексов (погасание), обусловленное типом решетки [243]
  §6. Приложения [246]
    1. Определение - расшифровка структуры [246]
    2. Изучение сверхструктурных образований в сплавах [246]
    3. Определение пропорций составных частей смеси [248]
Глава 8. Определение [расшифровка) кристаллических структур [249]
  §1. Сравнение монокристального и порошкового методом [249]
  §2. Предварительные процедуры [250]
    1. Нахождение элементарной ячейки и пространственной группы [250]
    2. Масштабный коэффициент и температурный фактор [253]
    3. Нахождение приближенной структуры [257]
  §3. Некоторые примеры определения структуры [259]
    1. Общий критический обзор интенсивностей [259]
    2. Установление пространственной группы [261]
    3. Точное определение интенсивностей [262]
    4. Обнаружение псевдосимметрии [263]
  §4. Уточнение кристаллических структур [265]
    1. Введение [265]
    2. Уточнение параметров методом наименьших квадратов [267]
    3. Уточнение методом наиболее крутого спуска [272]
    4. Уточнение методом минимизации фактора расходимости [273]
Глава 9. Анализ уширения порошковых линий [275]
  §1. Введение [275]
  §2. Пятнистые порошковые рентгенограммы [275]
    1. Причины возникновения пятнистости [275]
    2. Определение размера зерна по дискретным пятнам [276]
  §3. Уширение [размытие) порошковых линий [277]
    1. Определение ширины порошковых линий [277]
    2. Причины уширения порошковых линий [278]
  §4. Измерение уширения [282]
    1. Введение [282]
    2. Распределение интенсивности по уширенной порошковой линии [282]
    3. Метод Стокса [283]
    4. Измерение ширины линий [288]
  §5. Приложения [294]
    1. Кажущиеся размеры кристалла [294]
    2. Малоугловое рассеяние [294]
    3. Структурные ошибки [295]
    4. Деформированные кристаллы [296]
Глава 10. Идентификация кристаллических материалов [297]
  §1. Введение [297]
  §2. Общие методы идентификации [298]
    1. Описания порошковых рентгенограмм [298]
    2. Картотека порошковых дифракционных данных [299]
    3. Некоторые практические трудности [304]
  §3. Идентификация в условиях ограниченного числа возможностей [305]
    1. Огнеупорные материалы [305]
    2. Системы сплавов [306]
    3. Минералы [308]
Задачи [310]
  Решения задач [317]
Приложение 1 [335]
Приложение 2 [339]
Приложение 3 [340]
Таблицы [342]
Литература [366]
Именной указатель [371]
Предметный указатель [374]
Формат: djvu + ocr
Размер:37620805 байт
Язык:РУС
Рейтинг: 4 Рейтинг
Открыть: Ссылка (RU)