Современные методы исследования поверхности

Автор(ы):Вудраф Д., Делчар Т.
18.06.2010
Год изд.:1989
Описание: В книге английских ученых излагаются физические основы более двадцати современных методов исследования поверхности (дифракция медленных электронов, ионная и электронная спектроскопия и т. д.). Дается сравнение и сопоставление методов друг с другом в зависимости от исследуемой проблемы физики поверхности. Книга предназначена для студентов и аспирантов физических, химических и материаловедческих специальностей, и также для широкого круга исследователей в области физики поверхности.
Оглавление:
Современные методы исследования поверхности — обложка книги.
Предисловие редактора перевода [5]
Предисловие [7]
Сокращения [9]
Глава 1. ВВЕДЕНИЕ [11]
  1.1. Почему поверхность? [11]
  1.2. Сверхвысокий вакуум, загрязнения и очистка [14]
  1.3. Адсорбция на поверхности [20]
  1.4. Аналитические методы исследования поверхности [23]
Глава 2. КРИСТАЛЛОГРАФИЯ ПОВЕРХНОСТИ И ДИФРАКЦИЯ ЭЛЕКТРОНОВ [27]
  2.1. Симметрия поверхности [27]
  2.2. Описание структур верхних слоев [34]
  2.3. Обратная решетка и дифракция электронов [37]
  2.4. Дифракция электронов; качественное рассмотрение [42]
  2.5. Домены, ступеньки и дефекты [45]
  2.6. Определение структуры поверхности с помощью ДМЭ [65]
    2.6.1. Общее рассмотрение и недостатки методов однократного рассеяния и фурье-преобразования [65]
    2.6.2. Основные теории многократного рассеяния [77]
    2.6.3. Применение расчетов многократного рассеяния [85]
  2.7. Тепловые эффекты [92]
  2.8. Дифракция отраженных быстрых электронов (ДОБЭ) [95]
Глава 3. МЕТОДЫ ЭЛЕКТРОННОЙ СПЕКТРОСКОПИИ [101]
  3.1. Общие замечания [101]
    3.1.1. Введение [101]
    3.1.2. Неупругое рассеяние электронов и поверхностная чувствительность [102]
    3.1.3. Электронные спектрометры [108]
    3.1.4. Распределение электронов по энергии в методах электронной спектроскопии [122]
    3.1.5. Методы электронной спектроскопии: спектроскопия остовных уровней атомов [126]
  3.2. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС) [127]
    3.2.1. Введение [127]
    3.2.2. Источники фотонов [128]
    3.2.3. Форма и сдвиги фотоэлектронных пиков [131]
    3.2.4. РФЭС — спектроскопия остовных уровней [141]
    3.2.5. Использование синхротронного излучения [149]
    3.2.6. Структурные эффекты в РФЭС [153]
  3.3. Электронная оже-спектроскопия (ЭОС) [164]
    3.3.1. Введение: основные процессы [164]
    3.3.2. Энергетические уровни, сдвиги и форма пиков [166]
    3.3.3. ЭОС как метод анализа состава поверхности [179]
    3.3.4. ЭОС и РФЭС — некоторые сопоставления [193]
  3.4. Пороговые методы [195]
    3.4.1. Спектроскопия потенциала появления (СПП) [195]
    3.4.2. Спектроскопия ионизационных потерь (СИП) [204]
    3.4.3. Структурные эффекты в пороговых методах [207]
  3.5. Ультрафиолетовая фотоэлектронная спектроскопия (УФЭС) [212]
    3.5.1. Введение [212]
    3.5.2. Использование УФЭС для изучения зонной структуры [214]
    3.5.3. Применение УФЭС для изучения адсорбированных молекул [233]
Глава 4. МЕТОДЫ ИОННОЙ СПЕКТРОСКОПИИ [251]
  4.1. Введение [251]
  4.2. Обмен зарядом между ионами и поверхностью [253]
    4.2.1. Ионно-нейтрализационная спектроскопия (ИНС) [257]
    4.2.2. Ионно-нейтрализационная спектроскопия с участием метастабильных атомов [266]
    4.2.3. Экспериментальное оборудование для ИНС [268]
    4.2.4. Экспериментальные результаты, полученные при нейтрализации ионов на поверхности металлов [273]
    4.2.5. Информация, получаемая при ИНС металлов [278]
  4.3. Методы, основанные на изучении рассеяния ионов [281]
    4.3.1. Рассеяние медленных ионов (РМИ): основные положения [282]
    4.3.2. Структурные эффекты в РМИ [297]
    4.3.3. Оборудование, проблемы и перспективы РМИ [302]
    4.3.4. Рассеяние быстрых ионов (РБИ) [305]
  4.4. Распыление и послойный анализ [314]
  4.5. Вторично-ионная масс-спектрометрия (ВИМС) [332]
Глава 5. ДЕСОРБЦИОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ [354]
  5.1. Введение [354]
  5.2. Термодесорбция [356]
    5.2.1. Введение [356]
    5.2.2. Качественный анализ зависимостей давления от времени [357]
    5.2.3. Экспериментальное оборудование для импульсной десорбции и ТПД [368]
    5.2.4. Спектры импульсной десорбции и ТПД [372]
  5.3. Электронно-стимулированная десорбция [377]
    5.3.1. Основные механизмы [377]
    5.3.2. Оборудование и измерения [391]
    5.3.3. Некоторые приложения и результаты [401]
Глава 6. ПОЛЕВЫЕ МЕТОДЫ [408]
  6.1. Полевая эмиссия [408]
  6.2. Полевой электронный микроскоп [414]
    6.2.1. Факторы, определяющие работу микроскопа [417]
    6.2.2. Устройство микроскопа [418]
    6.2.3. Экспериментальные результаты, полученные с помощью полевой электронной микроскопии (ПЭМ) [420]
  6.3. Полевая ионизация [423]
  6.4. Испарение и десорбция полем [433]
  6.5. Полевой ионный микроскоп [436]
  6.6. Полевой ионный микроскоп с атомным зондом [442]
Глава 7. МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ РАБОТЫ ВЫХОДА [445]
  7.1. Введение [445]
  7.2. Монокристаллические поверхности [446]
  7.3. Поликристаллические поверхности [447]
  7.4. Диодный метод измерения работы выхода [451]
  7.5. Измерения работы выхода, основанные на КРП [459]
  7.6. Методы полевой эмиссии [465]
  7.7. Фотоэлектрические измерения [466]
  7.8. Экспериментальные результаты [468]
Глава 8. РАССЕЯНИЕ МОЛЕКУЛЯРНЫХ И АТОМНЫХ ПУЧКОВ [471]
  8.1. Введение [471]
  8.2. Взаимодействие нейтральной частицы с поверхностью [472]
  8.3. Неупругое рассеяние, классическая точка зрения [476]
    8.3.1. Неупругое рассеяние, квантовомеханическая точка зрения [481]
  8.4. Упругое рассеяние [483]
  8.5. Получение и использование молекулярных пучков [486]
  8.6. Детекторы [493]
  8.7. Экспериментальные установки [494]
  8.8. Исследования, проводимые на основе изучения рассеяния атомных и молекулярных пучков [499]
Глава 9. МЕТОДЫ КОЛЕБАТЕЛЬНОЙ СПЕКТРОСКОПИИ [514]
  9.1. Введение [514]
  9.2. ОАИКС [522]
  9.3. Спектроскопия потерь энергии электронов [525]
  9.4. Экспериментальные методы ОАИКС [528]
    9.4.1. Применения ОАИКС [530]
  9.5. Экспериментальная методика СХПЭЭВР [535]
    9.5.1. Экспериментальные результаты по СХПЭЭВР [536]
Литература [545]
Именной указатель [559]
Указатель химических соединений [562]
Предметный указатель [564]
Формат: djvu
Размер:5787152 байт
Язык:РУС
Рейтинг: 295 Рейтинг
Открыть: