Спектроскопия высокой разрешающей силы

Автор(ы):Королев Ф. А.
25.05.2010
Год изд.:1953
Описание: В предлагаемой монографии освещена теория и практика спектроскопии высокой разрешающей силы. При изложении теоретических вопросов автор базируется на развитой им теории, полностью учитывающей явления дифракции в интерференционных приборах. В книге дается теория ступенчатой решетки, плоско-параллельных пластинок, сложных интерферометров и их применения. Освещены вопросы ширины спектральных линий, а также вопросы, связанные с теорией и практикой источников света для спектроскопии высокой разрешающей силы. Кратко обрисованы основные области применения. Книга предназначается для научных работников, аспирантов и студентов старших курсов физических факультетов университетов.
Оглавление:
Спектроскопия высокой разрешающей силы — обложка книги. Обложка книги.
Предисловие [7]
РАЗДЕЛ I. СПЕКТРОСКОПЫ ВЫСОКОЙ РАЗРЕШАЮЩЕЙ СИЛЫ
  Глава I. Ступенчатая решетка (эшелон Майкельсона) [11]
    § 1. Введение [11]
    § 2. Разность хода между интерферирующими лучами у ступенчатой решетки [16]
    § 3. Распределение интенсивности в спектре ступенчатой решетки [17]
    § 4. Дисперсия и область дисперсии [21]
    § 5. Монохроматическая ширина, предел разрешения и разрешающая сила ступенчатой решетки [27]
    § 6. Различие между ступенчатой решеткой и плоско-параллельной пластинкой [33]
    § 7. Отражательные ступенчатые решетки (отражательные эшелоны) [39]
    § 8. Методы работы со ступенчатой решеткой [44]
    § 9. Недостатки ступенчатых решеток [48]
    § 10. Расчет разностей длин волн (волновых чисел) при работе со ступенчатыми решетками [50]
  Глава II. Плоско-параллельные пластинки с боковым входом света [52]
    § 11. Типы плоско-параллельных пластинок [52]
    § 12. Распределение интенсивности у плоско-параллельных воздушных пластинок с боковым входом света при параллельном падающем пучке света [57]
    § 13. Распределение интенсивности у воздушных плоско-параллельных пластинок с боковым входом света при наличии в падающем свете пучков всевозможных направлений [68]
    § 14. Пластинка Люммера-Герке. Общность теории для воздушных и стеклянных пластинок. Учет поглощения в стекле [70]
    § 15. Дисперсия и область дисперсии пластинки Люммера-Герке [74]
    $ 16. Монохроматическая ширина, предел разрешения и разрешающая сила пластинки Люммера-Герке [77]
    § 17. Методы работы с пластинками. Скрещенные пластинки [84]
    § 18. Недостатки пластинок Люммера-Герке [88]
  Глава III. Плоско-параллельные пластинки Фабри-Перо [91]
    § 19. Типы пластинок Фабри-Перо [91]
    § 20. Распределение интенсивности [94]
    § 21. Зависимость интенсивности света в проходящем свете от оптических свойств зеркальных слоев и прозрачной среды между ними [102]
    § 22. Дисперсия и область дисперсии [111]
    § 23. Монохроматическая ширина, предел разрешения и разрешающая сила. Влияние диафрагмирования входного отверстия на разрешающую силу [114]
    § 24. Влияние точности изготовления зеркал на разрешающую силу [119]
    § 25. Сложный интерферометр (мультиплекс) [122]
    § 26. Методы работы с пластинками Фабри-Перо. Юстировка пластинок [129]
    § 27. Метод расчета разностей длин волн [131]
    § 28. Преимущества и недостатки пластинок Фабри-Перо [133]
РАЗДЕЛ II ИСТОЧНИКИ СВЕТА ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЙ СО СПЕКТРОСКОПАМИ ВЫСОКОЙ РАЗРЕШАЮЩЕЙ СИЛЫ. ОБЛАСТИ ПРИМЕНЕНИЯ
  Глава IV. Ширина спектральных линий [135]
    § 29. Общие замечания [135]
    § 30. Расширение спектральных линий вследствие затухания колебаний дипольного момента атома [138]
    § 31. Квантовая теория естественной ширины спектральных линий [146]
    § 32. Ширина спектральных линий, обусловленная затуханием при соударениях [151]
    § 33. Соударения одинаковых атомов [154]
    § 34. Теория Власова и Фурсова для ширины спектральных линий однородного газа [157]
    § 35. Столкновения с электронами и нонами [159]
    § 36. Столкновения с фотонами [165]
    § 37. Расширение спектральных линий, обусловленное эффектом Допплера [167]
    § 38. Совместное действие соударений и эффекта Допплера [170]
    § 39. Влияние самообращения на ширину спектральных линий [171]
  Глава V. Источники света для исследований со спектроскопами высокой разрешающей силы [176]
    § 40. Общие замечания [176]
    § 41. Трубки с тлеющим электрическим разрядом (газосветные трубки) [178]
    § 42. Разрядные трубки с полым катодом [185]
    § 43. Источники света с высокочастотным газовым разрядом [191]
    § 44. Источники света с дуговым разрядом в вакууме [199]
    § 45. Источники света с атомными пучками [202]
    § 46. Методы испарения металлов и методы возбуждения спектра в атомных пучках [209]
    § 47. Устройства для получения атомных пучков с трудносжижаемыми газами [213]
    § 48. Приборы для исследований по методу поглощения [214]
  Глава VI. Области применения спектроскопов высокой разрешающей силы [218]
    § 49. Общие замечания [218]
    § 50. Исследование узких мультиплетов и атомных спектрах [220]
    § 51. Сверхтонкая структура спектральных линий и измерение механических и магнитных моментов атомных ядер [223]
    § 52. Исследование свойств атомного ядра но изотопическому сдвигу спектральных линий [227]
    § 53. Исследование сдвига энергетических уровней атомов и ионов благодаря электромагнитным эффектам «вакуума» [230]
    § 54. Исследование влияния внешних электрических полей на тонкую структуру спектральных линий [233]
    § 55. Исследование распределения интенсивности света в спектральных линиях [234]
    § 56. Тонкая структура спектров рассеяния [234]
ПРИЛОЖЕНИЯ
  Приложение 1. Дифракция Фраунгофера на прямоугольном и круглом отверстии [236]
  Приложение 2. Изготовление полупрозрачных зеркал для интерферометров Фабри-Перо методом испарения и вакууме [258]
  Приложение 3. Разрешение линий неравной интенсивности эталоном Фабри-Перо [265]
  Приложение 4. Фактор контрастности эталона Фабри-Перо [269]
  Приложение 5. Многослойные диэлектрические пленки в качестве зеркал для эталонов Фабри-Перо [271]
  Приложение 6. Методы регистрации интерференционной картины и обработки интерферограмм [273]
Литература [276]
Формат: djvu
Размер:5090177 байт
Язык:РУС
Рейтинг: 15 Рейтинг
Открыть: Ссылка (RU)