Основы структурного анализа химических соединенй, изд. 2
| Автор(ы): | Порай-Кошиц М. А.
06.10.2007
|
| Год изд.: | 1989 |
| Издание: | 2 |
| Описание: | "Рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения, методы решения проблемы "начальных фаз", наиболее существенные приложения структурных исследований в химии. Приводятся кинематические схемы дифрактомеров, основы статистического определения начальных фаз (знаков) структурных амплитуд, распределение электронной плотности в межъядерном пространстве и др." |
| Оглавление: |
Обложка книги.
Глава I. Основные понятия и элементы структурной криссталлографии [5] А. Описание решетки кристалла [6] § 1. Группа трансляций — решетка кристалла [6] § 2. Индексы узлов, узловых рядов и узловых сеток решетки кристалла [7] § 3. Обратная решетка [10] Б. Пространственные группы симметрии [15] § 4. Обозначения элементов симметрии конечных фигур, принятые в структурной кристаллографии [15] § 5. Закрытые и открытые операции симметрии [16] § 6. Точечные и пространственные группы симметрии [20] § 7. Взаимодействие трансляций и других операций симметрии [23] § 8. Классификационная схема пространственных групп симметрии [25] § 9. Классы симметрии, сингонии и категории [26] § 10. Координатные системы и метрика решеток [29] § 11. Типы решеток Бравэ [32] § 12. Графическое изображение пространственных групп симметрии [36] § 13. Обозначения пространственных групп симметрии [41] § 14. Правильные системы точек [45] Глава II. Дифракция рентгеновских лучей в кристалле [47] § 1. Физическая основа рентгеноструктурного анализа [47] § 2. Параметры рентгеновских волн; рассеяние рентгеновских лучей [49] § 3. Задачи, решаемые в ходе рентгеноструктурного анализа кристаллов [50] § 4. Условия Лауэ [54] § 5. Методы получения дифракционного эффекта [56] § 6. Другие способы представления дифракционного эффекта. Индицирование рентгенограмм [58] § 7. Области применения трех методов получения дифракционного эффекта [64] § 8. Фотографическая и дифрактометрическая аппаратура реитгеиоструктурного анализа монокристаллов [69] § 9. Автоматизация рентгеиоструктурного эксперимента [77] § 10. Методы ускорения дифрактометрического эксперимента [79] § 11. История развития методики и техники структурных исследований кристаллов [80] Глава III. Первый этап анализа структуры. Определение параметров решетки и симметрии кристалла [82] § 1. Параметры решетки и число формульных единиц в ячейке [82] § 2. Симметрия кристалла [84] Глава IV. Второй этап анализа структуры. Определение координат атомов в элементарной ячейке кристалла [90] § 1. Факторы, влияющие на интенсивность дифракционных лучей [90] § 2. Структурная амплитуда и координаты атомов [93] § 3. Структурные амплитуды и распределение электронной плотности по ячейке [98] § 4. Учет симметрии в формулах структурной амплитуды и электронной плотности [100] § 5. Проблема начальных фаз [102] § 6. Общая схема второго этапа анализа структуры [104] § 7. Метод межатомной функции [108] § 8. Статистический (прямой) метод определения начальных фаз [119] § 9. Метод минимизации структурного функционала [150] § 10. Уточнение координатных и других параметров структуры [154] § 11. Обработка результатов исследования [159] § 12. Автоматизация рентгеноструктурных расчетов [164] Глава V. Сравнительные возможности и перспективы дифракционных методов исследования. Задачи рентгеноструктурного анализа в химии [169] § 1. Сравнительные возможности рентгеноструктурного анализа, нейтронографии н электронографии кристаллов [169] § 2. Сравнительные возможности дифракционных методов изучения структуры кристаллов и веществ в других агрегатных состояниях [173] § 3. Основные задачи рентгеноструктурного анализа в химии [175] § 4. Новые задачи рентгеноструктурного анализа в физической химии [180] Заключение [190] |
| Формат: | djvu |
| Размер: | 1823913 байт |
| Язык: | RUS |
| Рейтинг: |
119
|
| Открыть: | Ссылка (RU) |