Библиотека по автоматике, вып. 526. Техническая диагностика дискретных устройств интегральной электроники

Автор(ы):Чараев Г. Г.
08.01.2014
Год изд.:1974
Описание: Проблема обеспечения высокой надежности электронных устройств автоматики и вычислительной техники привела к появлению качественно новой ступени в развитии электроники — к интегральным схемам. И эта проблема в основном решается за счет таких преимуществ интегральных схем перед обычными, как меньшая масса и объем, лучшая помехозащищенность, меньшее число соединений разнородных материалов, автоматизация производства, возможность резервирования, идентичность изменения термических, механических, химических и электрических свойств со временем и т. д. В книге рассматриваются вопросы тестового контроля исправности и диагностики неисправностей логических и вычислительных устройств, построенных на основе интегральной электроники. Книга предназначается для инженеров, занимающихся разработкой и эксплуатацией дискретных устройств на интегральных схемах, а также будет полезна студентам старших курсов, специализирующихся по вопросам надежности.
Оглавление:
Библиотека по автоматике, вып. 526. Техническая диагностика дискретных устройств интегральной электроники — обложка книги.
Предисловие [3]
Введение [4]
Глава первая. Тестовые процедуры для логических схем на однотипных интегральных модулях [9]
  1. Логическая схема на мажоритарных модулях [9]
  2. Логическая схема на многовыходных комбинационных модулях [16]
  3. Логические схемы на пороговых элементах [23]
  4. Полифункциональные сети [31]
Глава вторая. Тестовые процедуры для комбинационных однородных структур [38]
  5. Метод последовательного подбора внешних входных наборов при минимальных элементарных тестах [38]
  6. Метод последовательного подбора внешних входных наборов структуры при тривиальных элементарных тестах [56]
  7. Построение тестов для структур с различными ячейками [60]
  8. Метод одновременного подбора тест-наборов тривиального элементарного теста [65]
Глава третья. Тестовые процедуры для вычислительных сред [75]
  9. Последовательный метод для вычислительной среды на трехвходовых ячейках с четырьмя функциями [75]
  10. Вычислительные среды со структурой матриц Минника [80]
  11. Последовательный метод для вычислительных сред с полным множеством функций ячеек [88]
  12. Параллельный метод для вычислительных сред с полным множеством функций ячеек [95]
  13. Тестовый контроль однородных вычислительных систем [96]
Список литературы [102]
Формат: djvu
Размер:1846274 байт
Язык:РУС
Рейтинг: 104 Рейтинг
Открыть: Ссылка (RU) Ссылка (FR)