Библиотека по автоматике, вып. 526. Техническая диагностика дискретных устройств интегральной электроники
| Автор(ы): | Чараев Г. Г.
08.01.2014
|
| Год изд.: | 1974 |
| Описание: | Проблема обеспечения высокой надежности электронных устройств автоматики и вычислительной техники привела к появлению качественно новой ступени в развитии электроники — к интегральным схемам. И эта проблема в основном решается за счет таких преимуществ интегральных схем перед обычными, как меньшая масса и объем, лучшая помехозащищенность, меньшее число соединений разнородных материалов, автоматизация производства, возможность резервирования, идентичность изменения термических, механических, химических и электрических свойств со временем и т. д. В книге рассматриваются вопросы тестового контроля исправности и диагностики неисправностей логических и вычислительных устройств, построенных на основе интегральной электроники. Книга предназначается для инженеров, занимающихся разработкой и эксплуатацией дискретных устройств на интегральных схемах, а также будет полезна студентам старших курсов, специализирующихся по вопросам надежности. |
| Оглавление: |
Обложка книги.
Введение [4] Глава первая. Тестовые процедуры для логических схем на однотипных интегральных модулях [9] 1. Логическая схема на мажоритарных модулях [9] 2. Логическая схема на многовыходных комбинационных модулях [16] 3. Логические схемы на пороговых элементах [23] 4. Полифункциональные сети [31] Глава вторая. Тестовые процедуры для комбинационных однородных структур [38] 5. Метод последовательного подбора внешних входных наборов при минимальных элементарных тестах [38] 6. Метод последовательного подбора внешних входных наборов структуры при тривиальных элементарных тестах [56] 7. Построение тестов для структур с различными ячейками [60] 8. Метод одновременного подбора тест-наборов тривиального элементарного теста [65] Глава третья. Тестовые процедуры для вычислительных сред [75] 9. Последовательный метод для вычислительной среды на трехвходовых ячейках с четырьмя функциями [75] 10. Вычислительные среды со структурой матриц Минника [80] 11. Последовательный метод для вычислительных сред с полным множеством функций ячеек [88] 12. Параллельный метод для вычислительных сред с полным множеством функций ячеек [95] 13. Тестовый контроль однородных вычислительных систем [96] Список литературы [102] |
| Формат: | djvu |
| Размер: | 1846274 байт |
| Язык: | РУС |
| Рейтинг: |
31
|
| Открыть: | Ссылка (RU) |