Надежность вычислительных систем

Автор(ы):Лонгботтом Р.
09.06.2013
Год изд.:1985
Описание: В книге дано систематизированное изложение вопросов обеспечения и поддержания надежности ЭВМ и вычислительных систем с позиций разработчика и пользователя. Рассмотрена надежность аппаратуры и программного обеспечения больших, средних, малых, мини- и микро-ЭВМ и систем. Освещены вопросы технического обслуживания вычислительной техники в условиях эксплуатации и процедуры приемочных испытаний. Дана методика практических расчетов надежности ЭВМ и систем. В приложениях даны практически используемые тесты для процессоров и периферийного оборудования. Книга предназначена для инженеров и научных работников в области разработки и эксплуатации вычислительной техники.
Оглавление:
Надежность вычислительных систем — обложка книги.
Предисловие редактора перевода [3]
Введение [5]
Глава 1. Отказы [7]
  Введение [7]
  График интенсивности отказов [7]
  Теоретическое предсказание надежности [8]
  Процессорные модули [8]
  Процессор [8]
  Периферийное оборудование и система в целом [10]
  Программное обеспечение [11]
  Трудности определения понятия отказа [11]
  Отказы с точки зрения пользователя [13]
  Модели отказов [13]
  Вероятность возникновения отказов [15]
  Экспоненциальное распределение [15]
  Распределение Пуассона [16]
Глава 2. Изменение безотказности во времени [18]
  Стабилизация безотказности [18]
  Ранние дефекты [18]
  Семейство процессоров [21]
  Модели первой партии изделий [21]
  Ввод системы в эксплуатацию [23]
  Отказы из-за внешних воздействий [23]
  Отказы из-за износа системы и ожидаемый срок службы [24]
  Электронная аппаратура [24]
  Вычислительные машины [25]
  Запасные части [26]
  Периферийное оборудование [27]
  Обслуживание [27]
  Стоимость обслуживания [27]
  Улучшения и изменение нагрузки системы [28]
  Кондиционеры, силовое оборудование, помещение [28]
Глава 3. Вопросы обеспечения качества [29]
  Проектирование [29]
  Методика [29]
  Результирующая безотказность [30]
  Качество проектирования [30]
  Нагрузка [31]
  Новая технология [33]
  Модификация [33]
  Большой процессор [34]
  Мини-ЭВМ [35]
  Лучший случай [36]
  Гарантия качества изготовления [37]
  Вопросы организации производства [37]
  Качество проектирования [38]
  Подбор компонентов [39]
  Контроль качества компонентов [40]
  Испытания модулей [41]
  Испытания блоков [42]
  Испытания систем [43]
  Упаковка и отправка системы потребителю [43]
  Данные об эксплуатации и анализ дефектов [44]
  Вопросы, которым не уделяют должного внимания [45]
Глава 4. Окружающая среда [46]
  Кондиционирование воздуха [46]
  Влияние окружающей среды [46]
  Условия в помещении для средних и больших систем [47]
  Условия в помещении для мини-ЭВМ и малых систем базовой конфигурации [48]
  Требования к окружающим условиям при проектировании [48]
  Средние и большие процессоры [48]
  Малые ЭВМ и микропроцессоры [51]
  Периферийные устройства больших систем [51]
  Периферийные устройства мини- и микро-ЭВМ [52]
  Рассеивание тепла и требования к размещению [53]
  Процессоры [53]
  Безотказность и рассеивание тепла [55]
  Контроллеры периферийного оборудования и главная память [57]
  Периферийные устройства систем базовых конфигураций [57]
  Общее рассеивание тепла системами базовых конфигураций [57]
  Рассеивание тепла и размещение малых и мини-систем [57]
  Рассеивание тепла и размещение микропроцессорных систем [58]
  Необходимость кондиционирования воздуха [58]
  Рассеивание тепла и максимально допустимая температура [59]
  Минимальная относительная влажность [60]
  Максимальная относительная влажность [60]
  Пыль [60]
  Стоимость кондиционирования воздуха [61]
  Источники питания [62]
  Спецификации [62]
  Защита [63]
  Влияние включений и отключений на безотказность системы [63]
  Электромагнитное излучение [64]
  Спецификации [64]
  Требования к заземлению [64]
  Удары и вибрация [65]
Глава 5. Надежность программного обеспечения [65]
  Сравнение с аппаратурой [65]
  Причины отказов [65]
  Интенсивность ошибок [66]
  Исправления [67]
  Ранняя стадия жизни [67]
  Классификация ошибок программного обеспечения [68]
  Проблема отказов с точки зрения пользователя [68]
  Ошибки, представленные пользователем [68]
  Ошибки, признанные производителем [70]
  Идентифицированные и исправленные ошибки [71]
  Общая интенсивность ошибок [71]
  Гарантия качества программного обеспечения [72]
  Конфигурации [72]
  Состав испытаний [72]
  Длительность испытаний [72]
  Критерии успеха [72]
  Организация испытаний [73]
  Эффективность испытаний [73]
  Сервисное программное обеспечение [73]
  Задержки исправления ошибок [73]
  Время реакции [73]
  Приоритеты [74]
  Обслуживаемость, время простоя и системные отказы [75]
  Изменение надежности во времени [76]
  Средние результаты на длительных промежутках времени [76]
  Средние результаты на коротких промежутках времени [77]
  Результаты на коротких периодах для отдельных систем [78]
  Разбросы значений безотказности. Сравнение с аппаратурой [79]
  Отличия у разных потребителей [80]
  Разбросы значений безотказности на длительных промежутках времени [81]
  Разбросы значений безотказности для машин одного типа [81]
  Разбросы значений безотказности на коротких промежутках времени [82]
  Спецификация на надежность программного обеспечения [83]
Глава 6. Признаки неисправностей [84]
  Последствия отказов [84]
  Необнаруженные ошибки [84]
  Процессоры [85]
  Периферийное оборудование [86]
  Спецификации, задаваемые производителем [88]
  Система в целом [89]
  Признаки неисправностей, фиксируемые пользователем [89]
  Процессоры [90]
  Периферийное оборудование [90]
  Признаки ошибок программного обеспечения [93]
  Управляющая часть операционной системы [93]
  Компиляторы и ассемблер [94]
Глава 7. Время простоя и время обслуживания [95]
  Время простоя [95]
  Сравнительные характеристики времени простоя и классификация неисправностей [97]
  Время исследования [98]
  Малая вычислительная машина [98]
  Мини-ЭВМ [100]
  Большая вычислительная машина [100]
  Периферийное оборудование [102]
  Время простоев, наблюдаемых пользователем [102]
  Распределение [103]
  Влияние ремонтопригодности [104]
  Время простоя системы [105]
  Время простоя периферийного оборудования [106]
  Время планового обслуживания [106]
  Время дополнительного обслуживания [108]
Глава 8. Коэффициенты обслуживаемости и готовности [108]
  Определения [108]
  Историческая справка [110]
  Первые вычислительные системы [110]
  Мультипрограммирование [111]
  Весовые коэффициенты [111]
  Различие в результатах измерений [113]
  Различные методы измерения [113]
  Разброс значений коэффициентов обслуживаемости [114]
  Влияние безотказности системы на интервальный коэффициент [115]
  Зависимость интервального коэффициента от периода времени [117]
  Зависимость интервального коэффициента от времени простоя [117]
  Наихудшие случаи [117]
Глава 9. Ремонтопригодность и отказоустойчивость [120]
  Определения [120]
  Диагностирование неисправностей [121]
  Испытательные программы [122]
  Диагностические испытательные программы [122]
  Функциональные испытательные программы [123]
  Тренировочные испытательные программы [124]
  Программы проверки взаимодействия [127]
  Программы, реализуемые в процессе рабочего функционирования системы [127]
  Программы проверки временных характеристик [129]
  Программы проверки совместимости [130]
  Средства тестовой проверки аппаратуры [130]
  Испытательные пульты [131]
  Диагностические процессоры [131]
  Тестеры для модулей [132]
  Модульные принципы [133]
  Конструктивный модульный принцип [133]
  Функциональный модульный принцип [134]
  Интегральные микросхемы с большой степенью интеграции [136]
  Предельные режимы [138]
  Изменения напряжения питания [139]
  Изменения временных характеристик [139]
  Температурные изменения [139]
  Другие виды задания изменений [140]
  Обнаружение и исправление ошибок [140]
  Проверка четности [140]
  Исправление ошибок [141]
  Регистрация отказов [142]
  Регистрация истории системы [142]
  Журнал ошибок [143]
  Вывод на пульт и дисплей [144]
  Избыточность и реконфигурация [144]
  Организация обслуживания [146]
  Расходы на обслуживание [146]
  Необходимые ресурсы [147]
  Влияние ремонтопригодности и отказоустойчивости [148]
  Измерения [148]
  Измерение на коротких периодах [149]
Глава 10. Приемочные испытания [151]
  Необходимость проведения испытаний [151]
  Испытания на надежность [152]
  Проверка возможностей и измерение производительности [155]
  Средства поддержки [155]
  Стандартные процедуры Центрального агентства по вычислительной технике [157]
  Демонстрации [158]
  Циклическая проверка [160]
  Роль инспектора [163]
  Отчетные документы [164]
  Графики проверок [164]
  Результаты испытаний [165]
  Достоинства и недостатки процедур испытаний Центрального агентства по вычислительной технике [168]
  Устаревшая стандартная процедура испытаний Центрального агентства по вычислительной технике [169]
  Процедуры Главного управления по обслуживанию [170]
Глава 11. Практические оценки надежности [171]
  Электронное оборудование [171]
  Общие замечания [171]
  Центральный процессор [171]
  Оперативное запоминающее устройство [174]
  Надежность и архитектура системы [175]
  Контроллеры периферийных устройств [177]
  Примеры значений относительной безотказности [173]
  Время исследований [179]
  События и время простоя с точки зрения пользователя [180]
  Периферийные устройства [181]
  Накопители на сменных магнитных дисках [182]
  Факторы, влияющие на надежность [183]
  Накопители на магнитных лентах [184]
  Краткие выводы [186]
  Примеры предсказания надежности [187]
  Предсказание надежности программного обеспечения [190]
  Пример предсказания безотказности программного и аппаратурного обеспечения [192]
  Качество работы системы с точки зрения пользователя [193]
Глава 12. Практическое вычисление безотказности и обслуживаемости сложных систем [194]
  Параллельное и последовательное соединение устройств [194]
  Параллельное соединение устройств [194]
  Последовательное соединение устройств [197]
  Коэффициент восстановления [197]
  Сложные соединения
  Вычисление коэффициента обслуживаемости системы в целом [199]
  Системы средних размеров [200]
  Обслуживаемость и безотказность на коротких периодах времени [201]
  Время обработки программ неисправной системой [207]
  Вычисление коэффициента обслуживаемости методом весовых коэффициентов [207]
  Плановое обслуживание [208]
  Многопроцессорные системы [209]
  Системы коммутации сообщений [210]
  Многопроцессорная мини-система [211]
  Подсистемы связи [214]
  Надежность линий связи [215]
  Модемы [217]
  Терминалы [220]
Приложение 1. Тренировочные испытательные программы, написанные на языке ФОРТРАН [221]
  FOPR00 тест процессора [221]
  FOPR0l - тест процессора и запоминающего устройства [293]
  FOPR02 - тест процессора [226]
  FGPR03 - тест процессора [228]
  FOPR04 - тест процессора [229]
  FODK00 - тест накопителя на магнитных дисках (произвольный доступ) [233]
  FODKO1 - тест накопителя на магнитных дисках или FOMT01 - тест накопителя на магнитных лентах [238]
  FODK02 - тест накопителя на магнитных дисках или FOMT00 - тест накопителя на магнитных лентах [247]
  FODK03 - тест накопителя на магнитных дисках или FOMT02 - тест накопителя на магнитных лентах [248]
  FOLP00 - тест печатающего устройства [253]
  FOCP00 - тест устройства вывода ка перфокарты [261]
  FOCR00 - тест устройств ввода с перфокарт [263]
  FOTP00 - тест устройства вывода на перфоленту [267]
  FOTR00 - тест устройства ввода с перфоленты [269]
Приложение 2. Вычисление коэффициент обслуживаемости сложных систем с помощью программируемого калькулятора [272]
Приложение 3. Оценка быстродействия процессора [278]
Формат: djvu
Размер:9029841 байт
Язык:РУС
Рейтинг: 336 Рейтинг
Открыть: