Машинное проектирование электронных схем

Автор(ы):Ильин В. Н.
20.02.2023
Год изд.:1972
Описание: В книге сделана попытка обобщить и систематизировать материалы по машинному проектированию электронных схем. Последовательно излагаются общие сведения о машинном проектировании, математические модели активных и пассивных компонентов электронных схем, методы автоматического составления уравнений схем, методы детерминированного и статистического анализа схем и их оптимизации по детерминированным и статистическим критериям. Книга рассчитана на инженеров по радиоэлектронике и вычислительной технике, а также может быть полезна студентам и аспирантам соответствующих специальностей.
Оглавление:
Машинное проектирование электронных схем — обложка книги. Обложка книги.
Предисловие [3]
Введение [6]
Глава первая. Математические модели компонентов электронных схем [17]
  1-1. Общие сведения о математических моделях компонентов [17]
    A. Понятие модели. Внутренние и внешние параметры модели [17]
    Б. Классификация моделей [19]
    B. Основные требования к моделям [22]
  1-2. Модели активных компонентов [26]
    A. Выпрямляющий диод [26]
    Б. Биполярный транзистор [35]
    B. Полевой транзистор [48]
    Г. Туннельный диод [57]
  1-3. Модели пассивных элементов [61]
    А. Пленочные пассивные элементы [62]
    Б. Пассивные интегральные полупроводниковые элементы [65]
Глава вторая. Составление уравнений электронной схемы с помощью ЦВМ [68]
  2-1. Исходные предпосылки для составления уравнений [68]
    A. Постановка задачи [68]
    Б. Область применимости законов Кирхгофа [70]
    B. Исходная информация для составления уравнений [72]
    Г. Матрицы компонентов схемы [75]
    Д. Матричная запись основных методов анализа цепей [79]
  2-2. Топологическое описание электронных схем [86]
    A. Граф схемы и его элементы [86]
    Б. Структурная матрица графа [90]
    B. Матрица главных сечений графа [94]
    Г. Матрица главных контуров [100]
    Д. Связь между топологическими матрицами [104]
  2-3. Алгебро-топологические уравнения цепей [110]
    A. Основные алгебро-топологические соотношения в однородном координатном базисе [111]
    Б. Общие сведения об уравнениях состояния линейных схем [115]
    B. Учет нелинейных активных компонентов в уравнениях состояния [118]
    Г. Иерархия ветвей, построение дерева и клеточное разбиение матриц контуров и сечений [134]
    Д. Составление алгебро-топологических уравнений состояния [137]
Глава третья. Анализ электронных схем [147]
  3-1. Анализ статического режима [147]
    A. Постановка задачи [147]
    Б. Расчет статического режима методом простой итерации [151]
    B. Метод Ньютона [161]
  3-2. Анализ переходных процессов [166]
    A. Постановка задачи [166]
    Б. Методы численного решения обыкновенных дифференциальных уравнений [170]
    B. О точности и устойчивости методов численного интегрирования [178]
    Г. Сравнение методов Эйлера и Рунге - Кутта [187]
  3-3. Статистический анализ электронных схем [189]
    A. Постановка задачи о статистическом анализе электронной схемы [189]
    Б. Метод Монте-Карло [192]
    B. Моделирование законов распределения случайных чисел на ЦВМ [195]
    Г. Методика статистического анализа схем методом Монте-Карло. Точность метода Монте-Карло [201]
Глава четвертая. Оптимизация электронных схем [208]
  4-1. Постановка задачи [208]
    A. Типы критериев оптимальности [208]
    Б. Типы ограничений [210]
    B. Математическая постановка задачи [212]
  4-2. Регулярные методы оптимизации [216]
    A. Градиентные методы [216]
    Б. Оптимизация с учетом ограничений-неравенств [225]
    B. Оптимизация с учетом ограничений-равенств [234]
    Г. Поиск глобального экстремума [236]
  4-3. Статистические методы оптимизации [239]
    A. Постановка задачи [239]
    Б. Алгоритмы случайного поиска локального экстремума [242]
    B. Алгоритм с самообучением [247]
    Г. Статистические алгоритмы глобального поиска [248]
  4-4. Оптимизация по статистическим критериям [254]
    A. Оптимизация по проценту выхода годных схем [254]
    Б. Оптимизация по условиям взаимозаменяемости [263]
    B. Оптимизация косвенных тестов [270]
Литература [274]
Формат: djvu + ocr
Размер:6357415 байт
Язык:РУС
Рейтинг: 78 Рейтинг
Открыть: Ссылка (RU)