Машинное проектирование электронных схем
| Автор(ы): | Ильин В. Н.
20.02.2023
|
| Год изд.: | 1972 |
| Описание: | В книге сделана попытка обобщить и систематизировать материалы по машинному проектированию электронных схем. Последовательно излагаются общие сведения о машинном проектировании, математические модели активных и пассивных компонентов электронных схем, методы автоматического составления уравнений схем, методы детерминированного и статистического анализа схем и их оптимизации по детерминированным и статистическим критериям. Книга рассчитана на инженеров по радиоэлектронике и вычислительной технике, а также может быть полезна студентам и аспирантам соответствующих специальностей. |
| Оглавление: |
Обложка книги.
Введение [6] Глава первая. Математические модели компонентов электронных схем [17] 1-1. Общие сведения о математических моделях компонентов [17] A. Понятие модели. Внутренние и внешние параметры модели [17] Б. Классификация моделей [19] B. Основные требования к моделям [22] 1-2. Модели активных компонентов [26] A. Выпрямляющий диод [26] Б. Биполярный транзистор [35] B. Полевой транзистор [48] Г. Туннельный диод [57] 1-3. Модели пассивных элементов [61] А. Пленочные пассивные элементы [62] Б. Пассивные интегральные полупроводниковые элементы [65] Глава вторая. Составление уравнений электронной схемы с помощью ЦВМ [68] 2-1. Исходные предпосылки для составления уравнений [68] A. Постановка задачи [68] Б. Область применимости законов Кирхгофа [70] B. Исходная информация для составления уравнений [72] Г. Матрицы компонентов схемы [75] Д. Матричная запись основных методов анализа цепей [79] 2-2. Топологическое описание электронных схем [86] A. Граф схемы и его элементы [86] Б. Структурная матрица графа [90] B. Матрица главных сечений графа [94] Г. Матрица главных контуров [100] Д. Связь между топологическими матрицами [104] 2-3. Алгебро-топологические уравнения цепей [110] A. Основные алгебро-топологические соотношения в однородном координатном базисе [111] Б. Общие сведения об уравнениях состояния линейных схем [115] B. Учет нелинейных активных компонентов в уравнениях состояния [118] Г. Иерархия ветвей, построение дерева и клеточное разбиение матриц контуров и сечений [134] Д. Составление алгебро-топологических уравнений состояния [137] Глава третья. Анализ электронных схем [147] 3-1. Анализ статического режима [147] A. Постановка задачи [147] Б. Расчет статического режима методом простой итерации [151] B. Метод Ньютона [161] 3-2. Анализ переходных процессов [166] A. Постановка задачи [166] Б. Методы численного решения обыкновенных дифференциальных уравнений [170] B. О точности и устойчивости методов численного интегрирования [178] Г. Сравнение методов Эйлера и Рунге - Кутта [187] 3-3. Статистический анализ электронных схем [189] A. Постановка задачи о статистическом анализе электронной схемы [189] Б. Метод Монте-Карло [192] B. Моделирование законов распределения случайных чисел на ЦВМ [195] Г. Методика статистического анализа схем методом Монте-Карло. Точность метода Монте-Карло [201] Глава четвертая. Оптимизация электронных схем [208] 4-1. Постановка задачи [208] A. Типы критериев оптимальности [208] Б. Типы ограничений [210] B. Математическая постановка задачи [212] 4-2. Регулярные методы оптимизации [216] A. Градиентные методы [216] Б. Оптимизация с учетом ограничений-неравенств [225] B. Оптимизация с учетом ограничений-равенств [234] Г. Поиск глобального экстремума [236] 4-3. Статистические методы оптимизации [239] A. Постановка задачи [239] Б. Алгоритмы случайного поиска локального экстремума [242] B. Алгоритм с самообучением [247] Г. Статистические алгоритмы глобального поиска [248] 4-4. Оптимизация по статистическим критериям [254] A. Оптимизация по проценту выхода годных схем [254] Б. Оптимизация по условиям взаимозаменяемости [263] B. Оптимизация косвенных тестов [270] Литература [274] |
| Формат: | djvu + ocr |
| Размер: | 6357415 байт |
| Язык: | РУС |
| Рейтинг: |
290
|
| Открыть: | Ссылка (RU) |