Отладка микропроцессорных систем

Автор(ы):Уильямс Г. Б.
06.10.2007
Год изд.:1988
Описание: Рассмотрены практические вопросы отладки микропроцессорных систем и применяемое для этого контрольно-измерительное оборудование. Приведено описание логических и сигнатурных анализаторов. Показаны некоторые схемотехнические решения и программное обеспечение, необходимые при отладке микросистем. Для инженерно-технических работников в области вычислительной техники и автоматики, занятых проектированием, производством и эксплуатацией микросистем.
Оглавление: Предисловие к русскому изданию [3]
Предисловие [5]
Список условных обозначений [10]
1. Введение в микропроцессорные системы [11]
  1.1. Компьютер [12]
  1.2. Системы с шинной структурой [13]
  1.3. Системы с отображением ввода-вывода на память [16]
  1.4. Тристабильные схемы [17]
  1.5. Дешифрирование адреса [20]
  1.6. Микроконтроллер [28]
  1.7. Уровни программирования [30]
2. Проблемы тестирования систем [36]
  2.1. Аппаратные средства или программное обеспечение? [37]
  2.2. Передачи параллельных кодов последовательно во времени [38]
  2.3. Мультиплексирование шины [39]
  2.4. Проблемы тестирования микросхем [39]
  2.5. Системное ядро [41]
  2.6. Тестирование ЦП [43]
  2.7. Тестирование ПЗУ [44]
  2.8. Тестирование ЗУПВ [47]
  2.9. Тестирование ввода-вывода [50]
  2.10. Некоторые общесистемные проблемы [52]
    2.10.1. Блоки электропитания [52]
    2.10.2. Системная синхронизация [56]
    2.10.3. Схемы сброса [58]
    2.10.4. Прерывания [61]
    2.10.5. Микросхемы памяти [63]
    2.10.6. Затухание сигналов [64]
3. Принципы тестирования систем [66]
  3.1. Программы самоконтроля [68]
  3.2. Существует ли отказ в действительности? [69]
  3.3. Срок службы интегральных схем [71]
  3.4. Тестирование нагрузками [73]
    3.4.1. Механическая нагрузка [74]
    3.4.2. Температурная нагрузка [74]
    3.4.3. Электрическая нагрузка [75]
  3.5. Локализация отказов [75]
  3.6. Дерево поиска неисправностей [79]
4. Применение обычных приборов [82]
  4.1. Мультиметры [83]
  4.2. Частотомеры [84]
  4.3. Осциллограф [85]
  4.4. Ограниченные возможности обычных приборов [90]
5. Ручные инструментальные средства [90]
  5.1. Логические пробники [92]
    5.1.1. Промышленные логические пробники [97]
    5.1.2. Использование логического пробника [99]
  5.2. Логические пульсаторы [101]
    5.2.1. Использование логического пульсатора [103]
  5.3. Тестирование «стимул-реакция» с помощью пульсатора и пробника [106]
  5.4. Индикатор тока [107]
    5.4.1. Использование индикатора тока [110]
    5.4.2. Тестирование «стимул-реакция» с помощью логического пульсатора и индикатора тока [111]
  5.5. Логические компараторы [116]
  5.6. Ограниченные возможности ручных инструментальных средств [118]
6. Логические анализаторы [118]
  6.1. Анализаторы логических состояний [121]
  6.2. Анализаторы временных диаграмм [134]
  6.3. Режимы индикации [138]
    6.3.1. Режим карты [138]
    6.3.2. Двоичный и группированный двоичный режим [141]
    6.3.3. Шестнадцатеричный формат [143]
    6.3.4. Дисассемблерный формат [145]
    6.3.5. Индикация временных диаграмм [146]
    6.3.6. Форматы специального кодирования [147]
  6.4. Дополнительные возможности логических анализаторов [148]
    6.4.1. Подсчет событий [149]
    6.4.2. Измерения временных интервалов в анализаторе логических состояний [151]
    6.4.3. Диапазоны запуска и условия запуска [153]
    6.4.4. Предзапуск и постзапуск [154]
    6.4.5. Модули персонификации [155]
    6.4.6. Возможности анализаторов временных диаграмм [156]
    6.4.7. Принадлежности [156]
7. Сигнатурный анализ [157]
  7.1 Природа цифровых сигналов [158]
  7.2. Счет переходов [160]
  7.3. Вероятность успеха при счете переходов [160]
  7.4. Коды циклического избыточного контроля [165]
  7.5. Сигнатурный анализ [168]
  7.6. Вероятность успеха в сигнатурном анализе [170]
    7.6.1. Обнаружение ошибки при сигнатурном анализе [175]
  7.7. Простой сигнатурный анализатор [177]
  7.8. Тестирование в режиме свободного счета с использованием сигнатурного анализатора [182]
  7.9. Тестирование ПЗУ в режиме свободного счета [187]
  7.10. Тест-циклы сигнатурного анализа [188]
  7.11. Встроенные средства для сигнатурного анализа [190]
  7.12. Ограничения сигнатурного анализа [191]
  7.13. Сигнатурный анализ как общий способ тестирования [193]
8. Эмуляция [193]
  8.1. Системы проектирования [195]
    8.1.1. Редактор [196]
    8.1.2. Менеджер файлов [198]
    8.1.3. Редактор связей/загрузчик [199]
    8.1.4. Драйверы устройств ввода-вывода [199]
    8.1.5. Ассемблеры [200]
    8.1.6. Компиляторы [203]
    8.1.7. Менеджер памяти [204]
    8.1.8. Отладчик [206]
    8.1.9. Анализатор реального времени [207]
    8.1.10. Программатор ЭИПЗУ [207]
    8.1.11. Внутрисхемные эмуляторы [207]
  8.2. Тестирование систем с применением системы проектирования [208]
  8.3. Автономные эмуляторы [209]
9. Программы самоконтроля и диагностики [211]
  9.1. Программы самоконтроля [212]
    9.1.1. Тестирование ПЗУ [213]
    9.1.2. Тестирование ЗУПВ [215]
  9.2. Диагностические тесты [219]
    9.2.1. Простое тестирование ввода-вывода [220]
    9.2.2. Инициирование диагностических тестов [223]
10. Тестирование функций ввода-вывода [224]
  10.1 Пример функционального тестирования подсистемы [225]
  10.2. Тестирование последовательных линий связи [228]
    10.2.1. Протоколы последовательной передачи [231]
    10.2.2. Скорость передачи [234]
    10.2.3. Асинхронный связной интерфейс [235]
  10.3. Контроль приборной шины IEEE-488 [240]
    10.3.1. Структура универсальной интерфейсной шины [241]
    10.3.2. Пример передачи по шине [246]
    10.3.3. Анализ сигналов универсальной интерфейсной шины [247]
Приложение [249]
Список литературы [250]
Формат: djvu
Размер:2295688 байт
Язык:РУС
Рейтинг: 256 Рейтинг
Открыть: