Интерферометры. Основы инженерной теории, применение

Автор(ы):Коломийцов Ю. В.
21.05.2010
Год изд.:1976
Описание: В книге рассмотрены вопросы инженерной теории интерферометров, связанные главным образом с исследованием причин, понижающих контрастность интерференционных полос и искажающих их форму. Обоснованы требования к оптическим и механическим узлам интерферометров разных типов. Описаны интерферометры для измерения длин, для контроля формы и микрогеометрии поверхностей, а также для исследования оптических систем, измерения показателей преломления веществ и аэродинамических исследований. Рассмотрены возможные способы повышения чувствительности интерферометров. Книга предназначена для инженерно-технических работников, занятых разработкой и эксплуатацией интерферометров; она может быть полезна также преподавателям и студентам приборостроительных вузов.
Оглавление:
Интерферометры. Основы инженерной теории, применение — обложка книги. Обложка книги.
Предисловие [3]
Глава I. Общие сведения об интерференции света [5]
  § 1. Основные понятия и величины [5]
  § 2. Когерентность [8]
  § 3. Интерференция от двух когерентных источников света [9]
    Ширина и форма интерференционных полос [10]
    Разделение световой волны по фронту [12]
    Разделение световой волны по амплитуде [13]
Глава II. Интерференция в пластинах [15]
  § 4. Интерференция в плоскопараллельной пластине [15]
    Вычисление разности хода лучей в пластине [15]
    Получение колец равного наклона [16]
    Зависимость контрастности полос от клиновидности пластины [19]
  § 5. Интерференция в клиновидной пластине [20]
    Ход лучей в клиновидной пластине [20]
    Контрастность полос равной толщины при конечных размерах источника света [21]
    Плоскость локализации [22]
    Наблюдение картины вне плоскости локализации [26]
  § 6. Интерференция в пластине, ограниченной сферическими поверхностями [28]
    Получение колец Ньютона [28]
    Измерение радиусов кривизны поверхностей [29]
  § 7. Многолучевая интерференция в пластинах [30]
    Интенсивность проходящего света [31]
    Интенсивность отраженного света [31]
  § 8. Интерференция в двух пластинах [33]
    Получение полос равного наклона в белом свете [34]
    Измерение разности толщин пластин [36]
Глава III. Особенности интерференции в белом свете. Компенсаторы [37]
  § 9. Общие сведения [37]
  § 10. Неравенство толщин стекла на пути интерферирующих лучей [39]
    Компенсация стекла воздухом [39]
    Получение ахроматической полосы [41]
    Требования к плоскопараллельности оптических деталей [42]
  § 11. Компенсация неравенства толщин стекла введением стекла другого сорта [43]
    Получение ахроматической полосы нулевого порядка [44]
    Получение апохроматической полосы [45]
  § 12. Измерительные и котировочные стеклянные компенсаторы [46]
    Компенсаторы с поворотными пластинами [46]
    Двухклиновой компенсатор [47]
    Ахроматический компенсатор [49]
    Апохроматический компенсатор [51]
Глава IV. Оптические схемы и особенности основных типов интерферометров [52]
  § 13. Интерферометры, оптические схемы которых могут быть сведены к одной воздушной пластине [52]
    Интерферометр Физо [52]
    Интерферометр Майкельсона [52]
    Эталон Фабри и Перо [58]
  § 14. Интерферометры с двумя пластинами [61]
    Интерферометр Жамена [61]
    Интерферометр Цендера—Маха [65]
  § 15. Интерферометры френелевского типа [68]
    Интерферометр Релея [68]
    Звездный интерферометр Майкельсона [72]
    Звездный интерферометр Линника [75]
  § 16. Голографические интерферометры [75]
Глава V. Причины понижения контрастности интерференционной картины [81]
  § 17. Уточнение определения контрастности [81]
    Контрастность по полю и в данной точке поля [81]
    Измеренное и истинное значения контрастности [82]
  § 18. Немонохроматичность источника света [84]
    Две узкие спектральные линии [84]
    Одна широкая спектральная линия [84]
  § 19. Неравенство интенсивностей интерферирующих пучков лучей и наличие рассеянного света [87]
  § 20. Различие состояний поляризации интерферирующих пучков лучей [89]
    Интерференция естественного луча с лучом линейно-поляризованным [89]
    Интерференция двух линейно-поляризованных лучей [90]
  § 21. Зависимость контрастности от размеров источника света [93]
    Аналогия между клиновидной пластиной и зеркалами Френеля [94]
    Сдвиг полос в случае толстой клиновидной пластины [95]
  § 22. Непараллельность интерферирующих пучков лучей [98]
  § 23. Деформации волновых поверхностей [102]
    Волна W2 сферической формы [103]
    Волна W2 цилиндрической формы [103]
    Волна W2 с местными отступлениями от плоскости [105]
  § 24. Неправильная установка диафрагм [107]
Глава VI. Требования к оптическим и механическим узлам интерферометров [114]
  § 25. Дифференциация требований к узлам интерферометров разных типов [114]
    Принцип устройства интерферометра [114]
    Назначение интерферометра [114]
    Расстояние от оптического узла интерферометра до поля интерференции [116]
    Основные и вспомогательные оптические детали [117]
  § 26. Требования к качеству изготовления основных оптических деталей [117]
    Поверхности зеркал и пластин [117]
    Толщина и клиновидность оптических деталей [123]
    Стекло оптических деталей [125]
  § 27. Требования к точности установки основных оптических деталей [126]
    Смещение деталей вдоль оптической оси [126]
    Смещение деталей в направлениях, перпендикулярных к оптической оси [127]
    Поворот зеркал интерферометра [129]
  § 28. Требования к коллиматору и к приемной части интерферометра [130]
    Роль расфокусировки коллиматора [130]
    Роль дисторсии приемной части интерферометра [132]
  § 29. Требования к механическим узлам [134]
    Жесткость конструкции [135]
    Изменения температуры [135]
    Регулирующие устройства [137]
  § 30. Юстировка интерферметров и работа с ними [140]
    Этапы юстировки [140]
    Способы измерения смещения и искривления полос [143]
Глава VII. Интерферометры для измерения длин [146]
  § 31. Общие сведения [146]
  § 32. Уникальные интерферометры для измерения больших штриховых и концевых мер длины [148]
    Эталонная интерференционная установка ВНИИМ [148]
    Универсальный интерферометр ВНИИМ [150]
  § 33. Интерферометры для абсолютных измерений длины концевых мер [153]
    Интерферометр Кестерса [153]
    Интерферометр NPL [157]
    Интерферометр фирмы «Xильгер—Ватте» [158]
  § 34. Интерферометры для относительных измерений длины концевых мер [160]
    Технический интерференционный метод [160]
    Контактные интерферометры [162]
    Двойной контактный интерферометр [163]
    Интерферометр Карташева [163]
    Интерферометр ИКМ-10 [164]
  § 35. Интерферометры для измерения наружных размеров деталей [167]
    Многолучевой интерференционный микроскоп МИИ-11 [167]
    Интерференционный способ измерения диаметров шариков и цилиндров с помощью стеклянных пластин [169]
    Интерферометр ИЗК-57 для измерения диаметров шариков и цилиндров [170]
  § 36. Интерферометры для измерения внутренних размеров деталей [173]
    Интерференционный метод измерения диаметров отверстий в прозрачных кольцах с помощью аттестованных пробок [174]
    Интерференционный нутромер для бесконтактных относительных измерений диаметров отверстий от 8 до 30 мм [175]
    Интерференционный нутромер ИГ-88 для относительных измерении диаметров отверстий от 5 до 12 мм [178]
    Абсолютные методы измерений [182]
  § 37. Интерференционные индикаторы для измерения малых перемещений [184]
    Бесконтактный интерференционный индикатор удвоенной чувствительности [185]
    Двойной интерферометр [188]
  § 38. Лазерные интерферометры для измерения больших перемещений [189]
    Принципиальные схемы [189]
    Интерферометр фирмы «Браун Бовери» [191]
    Интерферометр ИПЛ [192]
    Интерферометр фирмы «Катлер— Хаммер» [193]
    Интерферометр фирмы «Хьюлет—Паккард» [193]
Глава VIII. Интерферометры для контроля формы и микрогеометрии поверхностей [195]
  § 39. Интерферометры для контроля плоскостей [195]
    Метод пробного стекла [195]
    Применение интерферометров типа Физо [197]
    Интерферометр ИКП-100 удвоенной чувствительности [198]
    Голографические интерферометры [199]
    Фотоэлектрические способы [200]
    Интерферометры для контроля прямолинейности профиля больших поверхностей [201]
  § 40. Интерферометры для контроля сферических поверхностей [204]
    Сферические пробные стекла [204]
    Интерферометры для бесконтактного контроля поверхностей среднего диаметра [205]
    Неравноплечий лазерный интерферометр для контроля больших вогнутых поверхностей [210]
    Интерферометры для контроля сферических поверхностей малого диаметра [212]
  § 41. Интерференционные методы и приборы для контроля поверхностей сложной формы [215]
    Применение пробных стекол и интерферометров для контроля сферических поверхностей [215]
    Методы контроля поверхностей произвольной формы [216]
    Контроль поверхностей второго порядка [218]
    Контроль цилиндрических поверхностей [220]
    Контроль торических поверхностей [223]
  § 42. Микроинтерферометры [225]
    Микроинтерферометр Линника [225]
    Контрастность интерференционной картины [228]
    Условия получения прямых полос [229]
    Роль апертуры микрообъективов [231]
    Однообъективный микроинтерферометр Захарьевского [233]
    Другие методы контроля шероховатости [234]
  § 43. Микропрофилометры [235]
    Микропрофилометр с цилиндрической линзой [236]
    Расчет фокусного расстояния и положения цилиндрической линзы [237]
    Допустимая ширина щели [238]
    Влияние неточностей изготовления и установки оптических деталей на контрастность и форму полос [239]
    Микропрофилометр для контроля шероховатости внутренних поверхностей деталей [240]
    Микропрофилометр со спектральной насадкой [243]
    Микропрофилометр пониженной чувствительности [244]
Глава IX. Интерферометры прочих назначений [245]
  § 44. Интерферометры для исследования оптических систем [245]
    Интерферометр Тваймана [245]
    Метод Линника [247]
    Метод Цернике [248]
  § 45. Интерферометры для измерения показателя преломления вещества [249]
    Интерферометры по схеме Релея [249]
    Интерферометры по схеме Жамена [251]
    Измерение показателей преломления твердых тел [253]
  § 46. Интерферометры для исследования неоднородностей в прозрачных объектах [253]
    Интерферометр Майкельсона—Тваймана [254]
    Интерферометр Цендера—Маха [254]
    Интерферометры сдвига [255]
    Голографический интерферометр [257]
    Интерферометр последовательного типа [259]
  § 47. Интерференционные микроскопы для исследования прозрачных микрообъектов [261]
    Интерференционный биологический микроскоп МБИН-4 [261]
    Двухфокусный интерференционный микроскоп [262]
    Интерференционный микроскоп с обратно-круговым ходом [264]
    Глава X. Способы повышения чувствительности интерференционных методов измерения [266]
  § 48. Трех- и четырехлучевые интерферометры [266]
    Схема трехлучевого интерферометра типа Релея [266]
    Трехлучевой интерферометр Хунцингера [268]
    Четырехлучевые интерферометры Харихарана и Сена [270]
  § 49. Визуальные двухлучевые интерферометры повышенной чувствительности [273]
    Двухлучевой интерферометр с двойным прохождением лучей [273]
    Схема Рентча [275]
    Зеркальные устройства с многократным отражением [275]
  § 50. Фотоэлектрические методы измерения изменений разности хода [277]
    Модуляционный метод измерения малых разностей хода [277]
    Методы наведения на ахроматическую полосу [280]
Список литературы [285]
Формат: djvu
Размер:5026285 байт
Язык:РУС
Рейтинг: 50 Рейтинг
Открыть: Ссылка (RU)