Техника спектроскопии

Автор(ы):Фриш С. Э.
22.04.2010
Год изд.:1936
Описание: Настоящая книга представляет собою несколько расширенное содержание первой половины лекций, читанных автором для студентов-оптиков IV курса ЛГУ в 1934/35 учебном году. Вторая часть лекций посвящена изложению основных сведений по атомным и молекулярным спектрам и по ней имеется ряд появившихся за последнее время руководств. По первой же части — технике спектроскопии — до сих пор на русском языке не имелось подходящего руководства. Весьма неполные сведения об отдельных спектральных приборах и некоторых приемах изучения спектров разбросаны по отдельным книгам и журналам. Поэтому мне казалось целесообразным издать изложение основ техники спектроскопии в виде одной небольшой книги. Эта книга не отличается, конечно, той полнотой, которая характерна для немецких Handbuch'oв или для известного английского курса спектроскопии Baly, но автор старался включить в нее все существенное и надеюсь, что она окажется полезной не только для студентов ЛГУ, но и для всех лиц, которые приступают к работе со спектральными приборами.
Оглавление:
Техника спектроскопии — обложка книги. Обложка книги.
ЧАСТЬ I. СПЕКТРАЛЬНЫЕ ПРИБОРЫ
  Глава I. Призменный спектрограф
    § 1. Устройство простейшего призменного спектрографа [7]
    § 2. Угол наименьшего отклонения призмы [8]
    § 3. Дисперсия призмы [10]
    § 4. Линейная дисперсия спектрографа [14]
    § 5. Разрешающая сила призмы [15]
    § 6. Яркость спектра, даваемого спектрографом [19]
    § 7. Условия освещения щели спектрографа с помощью проектирующей линзы [22]
    § 8. Потери света в спектрографе из-за отражений и поглощения [24]
    § 9. Различные типы призм. Материал для призм [26]
    § 10. Типы призменных спектрографов [32]
  Глава II. Дифракционная решетка
    § 11. Общая теория приборов высокой разрешающей силы [37]
    § 12. Дифракционная решетка [39]
    § 13. Дисперсия и разрешающая сила решетки [44]
    § 14. Случай косого падения света на решетку [46]
    § 15. Отражательные решетки [47]
    § 16. Способы установки решеток [49]
    § 17. Вогнутая решетка [52]
    § 18. Астигматизм вогнутой решетки [54]
    § 19. Типы установок вогнутой дифракционной решетки [55]
    § 20. Методы работы с решеткой. Недостатки решеток [59]
    § 21. Употребление решеток для работы в крайних ультрафиолетовой и инфракрасной частях спектра [63]
  Глава III. Приборы высокой разрешающей силы
    § 22. Введение [66]
    § 23. Интерферометр Майкельсона [66]
    § 24. Теория эшелона Майкельсона [71]
    § 25. Распределение интенсивности по порядкам [75]
    § 26. Типы установок эшелона [78]
    § 27. Пластинка Люмера [82]
    § 28. Способы установки пластинки Люмера [87]
    § 29. Эталон Фабри и Перо [90]
    § 30. Разрешающая сила эталона [93]
    § 31. Методы работы с эталонами и интерферометрами Фабри и Перо [97]
    § 32. Употребление скрещенных и сложных приборов [101]
    § 33. Практическая разрешающая сила приборов [104]
ЧАСТЬ II. МЕТОДЫ РЕГИСТРАЦИИ И ИЗМЕРЕНИЯ СПЕКТРОВ
  Глава I. Регистрация спектров
    § 34. Фотографирование спектров. Свойства фотопластинки [110]
    § 35. Проявление и сенсибилизирование пластинок. Шумановские пластинки [114]
    § 36. Термические способы регистрации спектров [118]
    § 37. Электрические методы регистрации спектров [122]
  Глава II. Измерение длин волн
    § 38. Введение [124]
    § 39. Сравнение длины волны красной кадмиевой линии с длиной нормального метра [126]
    § 40. Измерения Фабри, Перо и Бенуа; метод совпадения колец [129]
    § 41. Сравнение длин волн нормалей второго порядка с длиной волны красной кадмиевой линии [136]
    § 42. Нормали для крайней ультрафиолетовой и инфракрасной частей спектра [143]
    § 43. Измерение длин волн путем интерполирования [146]
  Глава III. Определение интенсивностей и контуров спектральных линий
    § 44. Общие методы определения интенсивностей [153]
    § 45. Тепловые и фотоэлектрические методы измерения интенсивностей [154]
    § 46. Фотографическая фотометрия. Микрофотометры [157]
    § 47. Сравнение интенсивностей линий с помощью клина и вращающегося диска [162]
    § 48. Методы нанесения марок интенсивностей [164]
    § 49. Определение отношения интенсивностей по кривым почернения [168]
    § 50. Определение интенсивностей линий, лежащих в различных спектральных областях [170]
    § 51. Абсолютные измерения [172]
    § 52. Контуры спектральных линий [174]
  Глава IV. Источники света
    § 53. Введение. Термические источники света [180]
    § 54. Вольтовы дуги и искры [182]
    § 55. Газосветные лампы [185]
Формат: djvu
Размер:4658588 байт
Язык:РУС
Рейтинг: 340 Рейтинг
Открыть: