Техника спектроскопии
Автор(ы): | Фриш С. Э.
22.04.2010
|
Год изд.: | 1936 |
Описание: | Настоящая книга представляет собою несколько расширенное содержание первой половины лекций, читанных автором для студентов-оптиков IV курса ЛГУ в 1934/35 учебном году. Вторая часть лекций посвящена изложению основных сведений по атомным и молекулярным спектрам и по ней имеется ряд появившихся за последнее время руководств. По первой же части — технике спектроскопии — до сих пор на русском языке не имелось подходящего руководства. Весьма неполные сведения об отдельных спектральных приборах и некоторых приемах изучения спектров разбросаны по отдельным книгам и журналам. Поэтому мне казалось целесообразным издать изложение основ техники спектроскопии в виде одной небольшой книги. Эта книга не отличается, конечно, той полнотой, которая характерна для немецких Handbuch'oв или для известного английского курса спектроскопии Baly, но автор старался включить в нее все существенное и надеюсь, что она окажется полезной не только для студентов ЛГУ, но и для всех лиц, которые приступают к работе со спектральными приборами. |
Оглавление: |
Обложка книги.
ЧАСТЬ I. СПЕКТРАЛЬНЫЕ ПРИБОРЫГлава I. Призменный спектрограф § 1. Устройство простейшего призменного спектрографа [7] § 2. Угол наименьшего отклонения призмы [8] § 3. Дисперсия призмы [10] § 4. Линейная дисперсия спектрографа [14] § 5. Разрешающая сила призмы [15] § 6. Яркость спектра, даваемого спектрографом [19] § 7. Условия освещения щели спектрографа с помощью проектирующей линзы [22] § 8. Потери света в спектрографе из-за отражений и поглощения [24] § 9. Различные типы призм. Материал для призм [26] § 10. Типы призменных спектрографов [32] Глава II. Дифракционная решетка § 11. Общая теория приборов высокой разрешающей силы [37] § 12. Дифракционная решетка [39] § 13. Дисперсия и разрешающая сила решетки [44] § 14. Случай косого падения света на решетку [46] § 15. Отражательные решетки [47] § 16. Способы установки решеток [49] § 17. Вогнутая решетка [52] § 18. Астигматизм вогнутой решетки [54] § 19. Типы установок вогнутой дифракционной решетки [55] § 20. Методы работы с решеткой. Недостатки решеток [59] § 21. Употребление решеток для работы в крайних ультрафиолетовой и инфракрасной частях спектра [63] Глава III. Приборы высокой разрешающей силы § 22. Введение [66] § 23. Интерферометр Майкельсона [66] § 24. Теория эшелона Майкельсона [71] § 25. Распределение интенсивности по порядкам [75] § 26. Типы установок эшелона [78] § 27. Пластинка Люмера [82] § 28. Способы установки пластинки Люмера [87] § 29. Эталон Фабри и Перо [90] § 30. Разрешающая сила эталона [93] § 31. Методы работы с эталонами и интерферометрами Фабри и Перо [97] § 32. Употребление скрещенных и сложных приборов [101] § 33. Практическая разрешающая сила приборов [104] ЧАСТЬ II. МЕТОДЫ РЕГИСТРАЦИИ И ИЗМЕРЕНИЯ СПЕКТРОВ Глава I. Регистрация спектров § 34. Фотографирование спектров. Свойства фотопластинки [110] § 35. Проявление и сенсибилизирование пластинок. Шумановские пластинки [114] § 36. Термические способы регистрации спектров [118] § 37. Электрические методы регистрации спектров [122] Глава II. Измерение длин волн § 38. Введение [124] § 39. Сравнение длины волны красной кадмиевой линии с длиной нормального метра [126] § 40. Измерения Фабри, Перо и Бенуа; метод совпадения колец [129] § 41. Сравнение длин волн нормалей второго порядка с длиной волны красной кадмиевой линии [136] § 42. Нормали для крайней ультрафиолетовой и инфракрасной частей спектра [143] § 43. Измерение длин волн путем интерполирования [146] Глава III. Определение интенсивностей и контуров спектральных линий § 44. Общие методы определения интенсивностей [153] § 45. Тепловые и фотоэлектрические методы измерения интенсивностей [154] § 46. Фотографическая фотометрия. Микрофотометры [157] § 47. Сравнение интенсивностей линий с помощью клина и вращающегося диска [162] § 48. Методы нанесения марок интенсивностей [164] § 49. Определение отношения интенсивностей по кривым почернения [168] § 50. Определение интенсивностей линий, лежащих в различных спектральных областях [170] § 51. Абсолютные измерения [172] § 52. Контуры спектральных линий [174] Глава IV. Источники света § 53. Введение. Термические источники света [180] § 54. Вольтовы дуги и искры [182] § 55. Газосветные лампы [185] |
Формат: | djvu |
Размер: | 4658588 байт |
Язык: | РУС |
Рейтинг: | 240 |
Открыть: | Ссылка (RU) |