Аналитическая химия: проблемы и подходы. Том 2
Автор(ы): | Кельнер Р., Мерме Ж. М., Отто М., Видмер Г. М.
06.10.2007
|
Год изд.: | 2004 |
Описание: | За последние три десятилетия характер элементной аналитической химии существенно изменился благодаря развитию инструментального анализа. Многие методы возникли и получили широкое распространение для рутинного анализа на коммерчески доступных приборах. Примерами могут служить атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно-связанной плазмой, масс-спектрометрия с индуктивно-связанной плазмой и атомно-абсорбционная спектрометрия с графитовыми печами. Некоторые другие методы, такие, как резонасно-ионизационная масс-спектрометрия, находятся пока в стадии изучения, но их аналитические возможности столь многообещающи, что внедрение этих методов—дело ближайшего будущего. В т. 2 включены части III-V и приложения справочного характера: ч. III посвящена физико-химическим методам анализа; ч. IV - методам хемометрики; в ч. V рассмотрены интегрированные аналитические системы, применяемые в гибридных методах и в производственном анализе. Обо всем этом, и многом другом, на страницах настоящего издания. |
Оглавление: |
Обложка книги.
Часть III. Физические методы анализаГлава 8. Элементный анализ [6] Введение [6] 8.1. Атомно-эмиссионная спектрометрия [10] 8.1.1. Введение [10] 8.1.2. Основы метода АЭС [11] 8.1.3. Источники излучения [17] 8.1.4. Спектрометры [24] 8.1.5. Детектирование [34] 8.1.6. Аналитические характеристики [35] 8.1.7. Применения [36] 8.2. Атомно-абсорбционная спектрометрия [39] 8.2.1. Введение [39] 8.2.2. Основы метода ААС [39] 8.2.3. Источники первичного излучения [42] 8.2.4. Источник свободных атомов [44] 8.2.5. Оптические диспергирующие системы [48] 8.2.6. Детекторы [49] 8.2.7. Измерение сигнала [49] 8.2.8. Чувствительность [49] 8.2.9. Химические помехи [49] 8.2.10. Спектральные помехи [50] 8.2.11. Современные достижения в ААС [54] 8.3. Рентгенофлуоресцентная спектрометрия [57] 8.3.1. Основы метода [57] 8.3.2. Оборудование [68] 8.3.3. Аналитические приложения и процедуры [82] 8.3.4. Заключение [90] 8.4. Активационный анализ [92] 8.4.1. Введение [92] 8.4.2. Основы метода [93] 8.4.3. Методы детектирования и измерения радиоактивного излучения [102] 8.4.4. Радиохимическое разделение [115] 8.4.5. Активация реакторными нейтронами (НАА) [117] 8.4.6. Применения НАА [122] 8.4.7. Активационный анализ без использования реактора [128] 8.5. Macс-спектрометрия неорганических веществ [132] 8.5.1. Введение [132] 8.5.2. Источники ионов [133] 8.5.3. Масс-спектрометры [139] 8.5.4. Детекторы [141] 8.5.5. Аналитические характеристики [142] 8.5.6. Приложения [143] Глава 9. Вещественный и молекулярный анализ [146] 9.1. Спектрометрия в видимой и ультрафиолетовой области спектра, эмиссия и люминесценция [148] 9.1.1. Теоретические основы [148] 9.1.2. Техника эксперимента [150] 9.1.3. Аналитическая информация, получаемая из УФ/видимого диапазона [152] 9.1.4. Аналитическое применение абсорбционной спектроскопии в УФ/вид.-области [156] 9.1.5. Молекулярная флуоресценция, фосфоресценция и хемилюминесценция [159] 9.2. Инфракрасная и рамановская спектроскопия [164] 9.2.1. Основы методов колебательной спектроскопии [165] 9.2.2. Техника эксперимента [169] 9.2.3. Аналитическая информация [185] 9.2.4. Применение для структурного анализа [192] 9.3. Спектроскопия ядерного магнитного резонанса (ЯМР) [200] 9.3.1. Введение [200] 9.3.2. Физические основы спектроскопии ЯМР [203] 9.3.3. Информация, получаемая из химических сдвигов [224] 9.3.4. Информация, получаемая из констант спин-спинового взаимодействия [235] 9.3.5. Специальные методы отнесения сигналов ядер (?)Н и (?)С [245] 9.4. Аналитическая масс-спектрометрия [254] 9.4.1. Основы метода [255] 9.4.2. Техника эксперимента [258] 9.4.3. Проведение аналитического эксперимента [285] 9.4.4. Приложения [299] Глава 10. Локальный анализ и анализ поверхности [311] 10.1. Фотонно-зондовые методы [314] 10.1.1. Эмиссионная спектроскопия [314] 10.2. Электронно-зондовые методы [321] 10.2.1. Основы теории электронно-зондовых методов [322] 10.2.2. Электронно-зондовый микроанализ (ЭЗМА) и растровая электронная микроскопия (РЭМ) [332] 10.2.3. Аналитическая электронная микроскопия (АЭМ) [337] 10.2.4. Электронная оже-спектроскопия (ЭОС) [339] 10.3. Ионно-зондовые методы [345] 10.3.1. Методы, основанные на рассеянии ионов [348] 10.3.2. Масс-спектрометрия вторичных ионов (МСВИ) [355] 10.4. Полевые зондовые методы [365] 10.5. Методы сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) [368] 10.5.1. Сканирующая туннельная микроскопия (СТМ) [369] 10.5.2. Атомная силовая микроскопия (АСМ) [374] Глава 11. Структурный анализ [388] 11.1. Общая методология [388] 11.2. Рентгеновская дифракция [391] 11.2.1. Дифракция на кристаллах [391] 11.2.2. Дифракция на порошках [401] 11.2.3. Анализ кристаллической структуры [406] Часть IV. Компьютерные методы в аналитической химии Глава 12. Хемометрика [41б] 12.1. Аналитические характеристики и статистические тесты [417] 12.1.1. Основы математической статистики [417] 12.1.2. Статистические тесты [428] 12.1.3. Применение статистики в пробоотборе [452] 12.2. Градуировка [459] 12.2.1. Градуировка как сравнение [459] 12.2.2. Качество градуировки [461] 12.2.3. Частота повторных градуировок [463] 12.2.4. Абсолютные и относительные методы анализа [464] 12.2.5. Способы градуировки и градуировочные модели [465] 12.2.6. Построение градуировочных функций методом наименьших квадратов [468] 12.2.7. Способы градуировки [472] 12.3. Обработка сигналов [477] 12.3.1. Извлечение информации [477] 12.3.2. Оцифровка данных и преобразование Фурье [478] 12.3.3. Свертка [480] 12.3.4. Развертка, кросс-корреляция и восстановление сигнала [483] 12.3.5. Цифровые фильтры [485] 12.3.6. Численное дифференцирование и интегрирование [490] 12.4. Оптимизация и планирование эксперимента [493] 12.4.1. Введение [493] 12.4.2. Планирование эксперимента [495] 12.4.3. Описание поверхности отклика [507] 12.4.4. Последовательная оптимизация: симплекс-метод [511] 12.5. Многомерные методы [517] 12.5.1. Общие положения [517] 12.5.2. Неконтролируемые методы [521] 12.5.3. Контролируемые методы [537] 12.5.4. Многомерное моделирование [545] Глава 13. Компьютеры в аналитической химии: аппаратное и программное обеспечение, сопряжение с аналитическими приборами [569] 13.1. Компьютеризованная лаборатория [569] 13.2. Базы аналитических данных [577] 13.2.1. Представление аналитической информации [577] 13.2.2. Поиск в базах данных [587] 13.2.3. Моделирование спектров [593] Часть V. Интегрированные системы анализа Глава 14. Гибридные методы [596] 14.1. Введение [596] 14.2. Гибридные газохроматографические системы [598] 14.2.1. ГХ-МС [598] 14.2.2. Газовая хроматография — инфракрасное детектирование с фурье-преобразованием (ГХ-ФПИК) [609] 14.2.3. Газовая хроматография с атомно-эмиссионным детектированием (ГХ-АЭД) [614] 14.3. Гибридные жидкостнохроматографические системы [620] 14.3.1. Жидкостная хроматография — масс-спектрометрия (ЖХ-МС) [621] 14.3.2. Жидкостная хроматография — инфракрасное детектирование с фурье-преобразованием (ЖХ-ФПИК) [630] 14.3.3. Жидкостная хроматография — ядерный магнитный резонанс (ЖХ-ЯМР) [632] 14.4. Другие методы [635] Глава 15. Миниатюризированные аналитические системы [639] 15.1. Принципы миниатюризации [639] 15.2. Изготовление микроустройств [642] 15.3. Примеры и экспериментальные результаты [643] 15.3.1. Хроматография [643] 15.3.2. Электрофорез в свободном потоке [645] 15.3.3. Капиллярный электрофорез (КЭ) [646] 15.3.4. Пример экспериментального (?)-СПА-устройства [647] Глава 16. Контроль технологических процессов [650] 16.1. Что такое контроль технологических процессов? [650] 16.2. Почему нужно контролировать технологический процесс? [651] 16.3. В чем отличие контроля технологических процессов от лабораторного анализа? [652] 16.4. Методы аналитического контроля промышленных процессов и их применение [653] 16.4.1. Методы разделения (хроматография) [655] 16.4.2. Спектроскопические методы [656] 16.4.3. Химические методы анализа [662] 16.4.4. Другие методы [664] 16.5. Стратегия пробоотбора (связь анализатор/ процесс) [665] 16.5.1. Пробоотбор для on-line-анализа [665] 16.5.2. Сочетания для in-line-методов [668] 16.6. Стратегия технологического контроля на основе промышленных анализаторов [668] 16.7. Будущее контроля технологических процессов [670] Приложение [673] 1. Литература по аналитической химии [673] 2. Список единиц системы СИ [675] 3. Физико-химические константы [677] 4. Лазеры: основные характеристики [688] 5. Характеристические частоты [691] 6. Статистические таблицы [692] 7. Матричная алгебра [694] Предметный указатель [697] |
Формат: | djvu |
Размер: | 8856500 байт |
Язык: | RUS |
Рейтинг: | 216 |
Открыть: | Ссылка (RU) |